LED可靠性的關(guān)鍵因素與測(cè)試技術(shù)
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上傳人：王進(jìn)軍 上傳時(shí)間： 2011-03-02 瀏覽次數(shù)： 298 |
LED可靠性的關(guān)鍵因素與測(cè)試技術(shù)
LED要進(jìn)入照明領(lǐng)域，其可靠性是人們關(guān)注的一大焦點(diǎn)。較之傳統(tǒng)的LED，照明LED的輸入功率更大，應(yīng)用環(huán)境和條件更加惡劣和嚴(yán)苛，這對(duì)LED的可靠性提出了更高的要求。 必須仔細(xì)研究LED的失效現(xiàn)象，分析其失效機(jī)理，找出影響LED可靠性的關(guān)鍵因素與測(cè)試技術(shù)。
內(nèi)容
可靠性理論基礎(chǔ)
LED壽命測(cè)試方法
LED失效分析
改善LED可靠性的關(guān)鍵技術(shù)
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